(4-108)
Определим соотношения, описывающие форму импульса тока коллектора при передаче транзистором скачков базового тока (рис. 4-25). Переходные процессы в схеме с насыщенными транзисторами удобно рассчитывать так называемым методом заряда, в основе которого лежит принцип нейтральности базы. Перемножив правые и левые части уравнения (1-35) на qS и проинтегрировав в пределах от 0 до w, получим уравнение заряда базы

Сравнивая соотношения (4-112) и (4-113), получаем:
Q{t) = ЈlK{t).
(4-114)
Отсюда следует, что в активной области характеристик временные изменения заряда неравновесных носителей в базе пропорциональны изменениям тока коллектора.
Если Б0А1б! </к.н>то время нарастания тока коллектора до «установившегося» значения [(0,95 -4- 0,99) X X /к(=:0О] составляет Јф1 (Зч-5)тв.
Если ВйМь^> 1К. н, то максимальный ток коллектора ограничивается значением /к. н. Время нарастания тока коллектора до уровня 0,9 /к. н (передний фронт импульса) можно определить из уравнений (4-111) и (4-114). Подставив в них значения t = *ф1, /к (Јф1) = 0,9 /к. K, Q (0) = 0 и i6 = AI6l, получим следующее выражение:
Время нарастания тем меньше, чем меньше тв и IK. н и чем больше А/б! и В0.
Поскольку в режиме насыщения в активной и периферийной частях базы (в дрейфовых транзисторах с высокоомным коллектором также и в толще коллектора) накапливается избыточный заряд неосновных носителей, то при анализе процессов в насыщенном транзисторе следует пользоваться постоянной времени накопления tj. Величина %i определяется в основном процессами в периферийной области базы. Величина Т/ близка к постоянной времени коэффициента передачи тока базы Bi при инверсном включении транзистора (для дрейфовых транзисторов Т/ > тв). Накопление неравновесных носителей заряда продолжается в течение времени taaK = (3 5) tj. При этом в базе накапливается заряд Q (*и) = Т/А/б1.
После окончания входного насыщающего импульса тока базы Д7б1 с длительностью ta > + tHaK и подачи запирающего импульса ток коллектора начинает изменяться через некоторое время, необходимое для рассасывания избыточного заряда. Время рассасывания tp определяется как интервал времени между моментом подачи на базу насыщенного транзистора запирающего импульса и моментом, когда напряжение на келлекторе достигает уровня 0,1 Ек. Рассасывание неравновесных носителей производится в основном за счет поверхностной и объемной рекомбинации. Ток базы при этом может значительно превышать величину тока базы в режиме отсечки.